1、試驗目的
研究試樣的光學、熱學、力學、化學和電學等特性受到機械作用力影響的變化程度。
2、引用標準
GB12085.1光學和光學儀器環(huán)境試驗方法術語、試驗范圍
GB2423.5電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程Ea: 沖擊試驗方法
GB2423.6電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程Eb: 碰撞試驗方法
GB2423.15電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程Ga: 恒加速度試驗方法
GB2423.7電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程Ec: 傾跌與翻倒試驗方法
GB2423.8電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程Ed: 自由跌落試驗方法
GB2423.10電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程Fc: 振動(正弦)試驗方法
GB2423.11電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程Fd: 寬帶隨機振動試驗方法一般要求
GB2423.13電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程Fdb: 寬帶隨機振動試驗方法中再現(xiàn)性
3、條件試驗
a.條件試應方法30: 沖擊
條件試驗方法30沖擊的嚴酷等級按表1，并優(yōu)先選用嚴酷等級02、03、05。試驗采用半正弦沖擊波并在三個軸線方向均受到三次沖擊。
b.條件試驗方法31: 碰撞
條件試驗方法31碰撞的嚴酷等級按表2
c.條件試驗方法32: 傾跌和翻倒
條件試驗方法32傾跌和翻倒的嚴酷等級按表3
d.條件試驗方法33:自由跌落
條件試驗方法33自由跌落的嚴酷等級按表4.適用于在正常貯存條件下帶包裝的光學儀器，試樣跌落次數(shù)為2次。若要增加跌落次數(shù)則應在有關標準中指明跌落次數(shù)，推薦選用的跌落次數(shù)為:10、20、50。
e.條件試驗方法35:恒加速度條件試驗方法35恒加速度的嚴酷等級.
4、有關標準應包括的內容
a.環(huán)境試驗標記，
b.試樣數(shù)量，
C.條件試驗方法30和31暴露的軸線和方向，
d.條件試驗方法32給出傾斜的邊和試驗次數(shù)，
e.條件試驗方法33條件試驗前后的包裝條件、試驗次數(shù)及暴露的邊和角、表面數(shù)，
f.條件試驗方法34待暴露的表面，
g.條件試驗方法35試樣暴露的軸線，
h.條件試驗方法36和37試樣暴露的軸線，
i.條件試驗方法36對每個特性頻擎的暴露時間，適合成樣安裝部位的特性頻率，
j.預處理，
k.初始檢測的內容和范圍。
